公示简要情况说明：国科大物理与光电工程学院为满足教学科研需要，采购低温光电测试系统一套

一、 采购人名称：国科大杭州高等研究院

二、 进口产品公示编号：importedProduct202109795299620

三、 采购项目名称：低温光电测试系统

四、 采购组织类型：分散采购-分散委托中介

五、 采购项目概况：

六、 符合上述采购要求的进口产品产地、品牌（一家及以上）：

七、 申请理由：拟采购的低温恒温器的最低温度可达4K要求，且在4K下的制冷功率达到1.5W、控温精确度优于±100mK、具有热辐射隔离计电磁辐射隔离设计、测试通道达到38路。目前国产设备温度稳定性差、故障率高，恒温器尺寸及温控软件与焦平面测试的软硬件无法完美匹配。采购国产设备会使得整个焦平面测试系统的软件无法达到设计性能。拟采购的低温探针台主要在温度稳定性（±100mK）、漏电流（＜100fA）、自动位移补偿探针（△T＜150K时，针尖位移小于5μm）等方面具有不可替代性。国产设备目前暂时无符合性能要求的产品，比较简陋的探针台目前只能用液氮温度只能到85K，无法满足使用不同制冷剂达到＜80K、和＜4K的要求。温度稳定性也只能到±1K，漏电流到100pA、没有探针补偿。拟采购的焦平面测试系统能够完全满足多路时序脉冲和直流偏置、高速、低噪声、大容量的信号与数据处理功能，且国产焦平面测试系统需要购买多家品牌设备进行整合，相关焦平面测试软件还需要花费大量的时间成本对其硬件进行开发、调用与调试工作，并非专用的成熟焦平面测试系统，仪器性能无法得到保证。在功能性、集成性和可靠性等方面都有所欠缺。

八、 论证专业人员信息及意见：

专业人员对进口产品技术性能先进性、采购必要性的论证意见：低温恒温器专家：秦春节论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购产品低温恒温器主要用于阵列成像单元的4K极低温测试，恒温器需要配合相应光路，数据激发单元和数据采集处理单元，实现整个成像能力检测的一体化集成。该设备的技术指标可靠性要求高，目前国产设备无法满足其功能及可靠性要求，建议采购进口产品。专家：孙鼎屹论证意见：拟采购产品不在我国禁止进口的产品中，其专家论证程序也符合相关规定。专家：戴振松论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的低温恒温器主要用于阵列成像单元的4K极低温测试，主要关键技术指标：温度范围为4K-325K，温度稳定性为±100mK，具有四个光学窗口。真空度优于10-5 Torr。国内同类产品技术指标达不到上述要求，建议采购进口产品。专家：董前民论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的低温恒温器用于阵列成像单元的4k极低温测试。其核心指标为：GM制冷机，功率≥1.51.5W@4.2K（二级），≥35W@50K（一级冷头）；温度：4K-325K；温度稳定性：±100mK；38路电信号通道；真空度优于10-5Torr。该系统配合红外成像监测的数据采集系统，完成红外阵列器件的红外成像性能低温测试的集成。国产设备在指标和可靠性上无法完全满足成像能力测试要求。建议采购进口设备。专家：金立论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的低温恒温器主要用于科研和教学，进行阵列成像单元的4K极低温测试，温度范围4K-325K，温度稳定性±100mK，四个光学窗口，真空度优于10-5Torr。国产设备在精度和可靠性上无法满足相关测试要求，建议采购进口设备。低温探针台专家：秦春节论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的产品低温探针台是通过非接触式测量，精确测量出半导体器件在不同温度下的IV、CV等电学特性，其核心指标精度及可靠性要求高，要求可以满足绝大多数半导体器件的低温电学特征表征，目前国内不存在同类产品，建议购买进口产品。专家：孙鼎屹论证意见：预采购产品不属于我国禁止进口产品，其专家论证程序是符合规定的。专家：戴振松论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的低温探针台主要通过非接触式测量半导体器件在不同温度下的电学特性。探针台核心指标系统可加装6个探针臂、探针臂的X、Y、Z方向行程分别不小于51mm、25mm、17mm。稳定性液氮优于±100mK，液氦优于±50mK。国内同类产品技术上达不到上述要求，建议采购进口仪器。专家：董前民论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的低温探针台用于测量半导体器件的IV、CV等电学特性。其核心指标：温度范围80K-475K（液氮），4K-475K（液氦）。稳定性：优于±100mK（液氮），优于50±mK（液氦）；循环时间：小于2.5h；探针臂行程X、Y、Z≥51mm、25mm、17mm。支持DC-1GHz测量。直流探针△T＜150K自动补偿位移。总位移＜5μm。温度传感器精度±12mK@1.4L、±12mK@4.2K、±12mK@10K、±22mK@77K、±32mK@300K 、±50mK@500K。其真空指标：＜5 × 10-4 Torr（RT）、＜5 × 10-5 Torr（BT）。同类国产设备指标不能完全满足半导体器件低温电子学表征的要求，建议采购进口设备。专家：金立论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的低温光电测试系统主要用于科研和教学目的，通过非接触式测量精准测出半导体在不同温度下的IV、CV等电学特性。温度范围80K-475K（液氮制冷）、4K-475K（液氦制冷）。稳定性范围优于±100mK（液氮）、优于50±mK（液氦），另外对于探针、温度计、加热器、湿度传感器等均有较严格的配置要求，现有国产设备达不到这样的精度，建议购买进口仪器。焦平面测试系统专家：秦春节论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的产品焦平面测试系统采用NIPXI数据采集系统，主要用于科研与教学，该系统的核心指标可靠性等要求高，进口产品可以满足，建议采购进口产品。专家：孙鼎屹论证意见：预采购相关产品不在我国禁止进口产品范围中，其专家论证程序也符合相关规定。专家：戴振松论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的焦平面测试系统核心技术指标：内置4核2.8GHz处理器，且系统基于PXIe架构，并提供32个双向数字输入输出通道，4路模拟信号采集通道，采样分辨率24bit，采样速率达15MS/s。国内产品核心技术指标满足不了要求，建议采购进口仪器。专家：董前民论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购的焦平面测试系统用于相关的高速数据采集。其核心指标：4核2.8GHz处理器、512G电子盘、16G内存；PXIe架构；32传输通道，时钟速率50MHz；4路信号通道，24bit分辨率；3路电源通道，1A；8路源测量通道，+/-10V, 100mA。国产产品不能满足实际测试指标要求，建议采购进口产品。专家：金立论证意见：国科大杭州高等研究院拟采购焦平面测试系统用于科研和教学目的，该系统采用NIPXI数据采集系统。核心指标，系统基于PXIe架构，提供32个双向数字输入输出通道，8路高精度源测量单元通道。国产设备无法满足项目的测量测试应用，建议购买进口产品。

九、 其它事项：

1、本项目公告期限为3个工作日，供应商对该项目拟采购进口产品及其理由和相关需求有异议的，可以在公示期限内（截止时间为本公示发布之日后的第4个工作日），以书面形式向采购人及同级财政监管部门提出异议。

2、其他事项

十、 联系方式：

1、 采购人名称：国科大杭州高等研究院

联系人：张悦

联系电话：18624396087

传真：/

地址：国科大杭高院13-308

2、 同级政府采购监督管理部门名称：

联系人：吕先生

监管部门电话：87715261

传真：87715261

地址：杭州市中河中路152号617办公室

附件信息:

• 物理与光电工程学院-焦平面测试系统，65万元-专家意见论证表.pdf

  2.2 M

• 物理与光电工程学院-低温恒温器，41万元-专家意见论证表.pdf

  2.3 M

• 物理与光电工程学院-低温探针台，50万元-专家意见论证表.pdf

  2.3 M