公示简要情况说明：/

一、 采购人名称： 国科大杭州高等研究院

二、 进口产品公示编号：importedProduct2020091286747492

三、 采购项目名称： 数理学院科研设备

四、 采购组织类型：分散采购-分散委托中介

五、 采购项目概况：

六、 符合上述采购要求的进口产品产地、品牌（一家及以上）：

七、 申请理由： 变波长干涉仪是干涉仪元件检测平台的关键设备，主要用于同时测量光学基板及光学元件前后表面面型等效光学厚度等参数，该设备具有可测量高精度平行平板前后面面形、测量过程效率高、受外界环境干扰小等特性。 特性优势有： 1. 可同时测量光学基板及光学元件前后表面面型等效光学厚度等参数； 2. 测量过程效率高，受外界环境干扰小。 经过调查目前国内生产的干涉仪，主要采用机械式相移干涉测量方法，受前后表面信号混叠的影响，无法测量高精度平行平板前后面面形。该方法只能通过 “涂油”等方法分别测量光学基板及光学元件前后表面面形，无法测量等效光学厚度。测量过程效率低，受外界环境干扰大，同时可能引入污染物。难以满足同时测量光学基板及光学元件前后表面面型等效光学厚度等参数需求，因此需要进口。

八、 论证专业人员信息及意见：

专业人员对进口产品技术性能先进性、采购必要性的论证意见：专家意见1： 变波长干涉仪是干涉仪元件检测平台的关键设备，可测量高精度平行平板前后面面形，国内干涉仪产品主要采用机械式相移干涉测量方法，受前后表面信号混叠的影响，无法测量高精度平行平板前后面面形，建议采购进口设备。 专家意见2： 变波长干涉仪可用于测量光学元件前后表面面型等效光学厚度，国内干涉仪产品主要采用机械式相移干涉测量方法，该方法只能通过 “涂油”等方法分别测量光学基板及光学元件前后表面面形，无法测量等效光学厚度，建议采购进口设备。 专家意见3： 变波长干涉仪主要用于同时测量光学基板及光学元件前后表面面型等效光学厚度等参数。国内干涉仪产品主要采用机械式相移干涉测量方法，该方法无法测量光学基板及光学元件前后表面面型等效光学厚度，建议采购进口设备。 专家意见4： 变波长干涉仪测量过程效率高，受外界环境干扰小，可测量光学基板及光学元件前后表面面型。国内干涉仪产品主要采用机械式相移干涉测量方法，测量过程效率低，受外界环境干扰大，同时可能引入污染物，建议采购进口设备。 专家意见5： 变波长干涉仪能实现对光学基板及光学元件前后表面面型等效光学厚度等参数的测量，国内干涉仪产品主要采用机械式相移干涉测量方法，受前后表面信号混叠的影响，无法测量高精度平行平板前后面面形。该方法只能通过 “涂油”等方法分别测量光学基板及光学元件前后表面面形，无法测量等效光学厚度。测量过程效率低，受外界环境干扰大，同时可能引入污染物。难以满足同时测量光学基板及光学元件前后表面面型等效光学厚度等参数需求，建议采购进口设备。 综合以上专家意见，变波长干涉仪具有可测量高精度平行平板前后面面形、测量过程效率高、受外界环境干扰小等特性，能够满足干涉仪元件检测平台同时测量光学基板及光学元件前后表面面型等效光学厚度等参数的需求，建议采购。

九、 其它事项：

1、本项目公告期限为3个工作日，供应商对该项目拟采购进口产品及其理由和相关需求有异议的，可以在公示期限内（截止时间为本公示发布之日后的第4个工作日），以书面形式向采购人及同级财政监管部门提出异议。

2、其他事项

/

十、 联系方式：

1、 采购人名称：国科大杭州高等研究院

联系人：毛文斌

联系电话：0571-86080792

传真：/

地址：国科大云艺园区13-406

2、 同级政府采购监督管理部门名称：杭州市财政局政府采购监管处

联系人：吕先生

监管部门电话：87715261

传真：87715261

地址：杭州市中河中路152号617办公室

按照客观、公正、公开的原则，本条信息受业主方委托独家指定在中国建设招标网 www.jszhaobiao.com 发布